Caractérisation des matériaux nanostructurés par diffusion des rayons X : des suspensions colloïdales aux couches minces et interfaces
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CNRS Formation Entreprises
Domaine de formation :
Sciences
Type de formation
:
Initiale
Lieu
:
Sarthe
Date de début
: Non définie
Date de fin
: Non définie
Public concerné par cette formation
:
Référence interne
:
5905&201021
Description de l'offre
:
- Acquérir ou approfondir ses connaissances théoriques et pratiques sur la diffusion des rayons X aux petits angles pour sonder des films minces (X-ray reflectrometry, GISAXS) et l’organisation de matériaux nanostructurés (SAXS)
- Savoir réaliser puis caractériser des échantillons modèles pour exploiter la complémentarité des techniques disponibles en laboratoire (couche mince métallique, film mince de polymère, solution de nanoparticules hybrides en solution et organisées après dépôt)
- Connaître les principes des techniques connexes aux grands instruments (X et neutrons) et au laboratoire (diffusion de la lumière)
- Savoir réaliser puis caractériser des échantillons modèles pour exploiter la complémentarité des techniques disponibles en laboratoire (couche mince métallique, film mince de polymère, solution de nanoparticules hybrides en solution et organisées après dépôt)
- Connaître les principes des techniques connexes aux grands instruments (X et neutrons) et au laboratoire (diffusion de la lumière)
Profil du candidat
:
Chercheurs, ingénieurs, techniciensAfin d’adapter le contenu du stage aux attentes des stagiaires, un questionnaire téléchargeable sur notre site internet devra être complété et renvoyé au moment de l’inscription.
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