Description du stage: Le stage commencera par étude bibliographique sur la fiabilité des composants MEMS et en particulier les accéléromètres ainsi que les méthodes utilisées. Ensuite, il faudra choisir les variantes des accéléromètres qui sont fabriqués au LETI à inclure dans l’étude de fiabilité. Le choix sera appuyé par des données suite à la caractérisation sous pointes des composants. Comme le packaging peut avoir une influence importante sur la longévité des composants, une réflexion sur une double étude sans/avec packaging sera menée.  Un plan de tests détaillé va être aussi élaboré en fonction des conditions d’utilisation de ces composants et les possibles défaillances attendues. Ça peut inclure des tests sous différents conditions de température, des vibrations, des accélérations mécaniques… La méthodologie d’identification des modes de défaillance et l’inspection des composants feront aussi partie du projet.